EMC測(cè)試技術(shù)
EMC設(shè)計(jì)與EMC測(cè)試是相輔相成的?EMC設(shè)計(jì)的好壞是要通過(guò)EMC測(cè)試來(lái)衡量的, 只有在產(chǎn)品的EMC設(shè)計(jì)和研制的全過(guò)程中,進(jìn)行EMC的相容性預(yù)測(cè)和評(píng)估,才能及早發(fā)現(xiàn) 可能存在的電磁干擾,并采取必要的抑制和防護(hù)措施,從而確保系統(tǒng)的電磁兼容性?否則,當(dāng)產(chǎn)品定型或系統(tǒng)建成后再發(fā)現(xiàn)不兼容的問(wèn)題,則需在人力?物力上花很大的代價(jià)去修改設(shè)計(jì)或采用補(bǔ)救的措施?
EMC測(cè)試包括測(cè)試方法?測(cè)量?jī)x器和試驗(yàn)場(chǎng)所?測(cè)試方法以各類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù),測(cè)量?jī)x器以頻域?yàn)榛A(chǔ),試驗(yàn)場(chǎng)地是進(jìn)行EMC測(cè)試的先決條件,也是衡量EMC工作水平的重要因素EMC檢測(cè)受場(chǎng)地的影響很大,尤其以電磁輻射發(fā)射?輻射接收與輻射敏感度的測(cè)試對(duì)場(chǎng)地的要求最為嚴(yán)格?目前,國(guó)內(nèi)外常用的試驗(yàn)場(chǎng)地有開(kāi)闊場(chǎng)?半電波暗室?屏蔽室和橫電磁波小室等?
作為EMC測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室大體有兩種類(lèi)型:一種是經(jīng)過(guò)EMC權(quán)威機(jī)構(gòu)審定和質(zhì)量體系認(rèn)證,而且具有法定測(cè)試資格的綜合性設(shè)計(jì)與測(cè)試實(shí)驗(yàn)室或檢測(cè)中心?它包括進(jìn)行傳導(dǎo)干擾?傳導(dǎo)敏感度及靜電放電敏感度測(cè)試的屏蔽室,進(jìn)行輻射敏感度測(cè)試的消聲屏蔽室,用來(lái)進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試的開(kāi)闊場(chǎng)地和配備齊全的測(cè)試與控制儀器設(shè)備?另一種類(lèi)型就是根據(jù)本單位的實(shí)際需要和經(jīng)費(fèi)情況而建立的具有一定測(cè)試功能的EMC實(shí)驗(yàn)室?比起檢測(cè)中心,這類(lèi)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室規(guī)模小?造價(jià)低,主要適用于預(yù)相容測(cè)試和EMC評(píng)估,也就是為了使產(chǎn)品在最后進(jìn)行EMC認(rèn)證之前,具有自測(cè)試和評(píng)估的手段?
在測(cè)試儀器方面,以頻譜分析儀為核心的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng),可以快捷?準(zhǔn)確地提供EMC有關(guān)參數(shù)?新型的EMC掃描儀與頻譜儀相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)了電磁輻射的可視化?可對(duì)系統(tǒng)的單個(gè)元器件?PCB板?整機(jī)與電纜等進(jìn)行全方位的三維測(cè)試,顯示真實(shí)的電磁輻射狀況
EMC測(cè)試必須依據(jù)EMC標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范給出的測(cè)試方法進(jìn)行,并以標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的極限值作為判據(jù)?對(duì)于預(yù)相容測(cè)試,盡管不可能保證產(chǎn)品通過(guò)所有項(xiàng)目的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試,但至少可以消除絕大部分的電磁干擾,從而提高產(chǎn)品的可信度,而且能夠指出如何改進(jìn)設(shè)計(jì)?抑制EMI發(fā)射?
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